欢迎来到北京哈曼电子有限公司网站!
咨询热线

17346546283

当前位置:首页  >  技术文章  >  激光测厚仪的产品基本组成概述及应用

激光测厚仪的产品基本组成概述及应用

更新时间:2020-12-23      点击次数:1345
激光测厚仪的产品基本组成概述及应用
激光测厚仪通常应用于钢板测厚、金属板/薄片测厚、薄膜测厚、电池极片测厚、木板测厚、卡片/纸张测厚
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更准确,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。
激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。

联系我们

北京哈曼电子有限公司 公司地址:北京市海淀区大慧寺路8号北区20号楼一层116室   技术支持:化工仪器网
  • 销售:17346546283
  • 技术:18611287598
  • 公司座机:010-68465926
  • 邮箱:info@bjhaman.com
  • QQ:3226344213

扫一扫 更多精彩

微信二维码

网站二维码